Tech Hour - Mai.-24 -  CRISMAT et GPM
Les « Tech Hours » de NAE :
Le rendez-vous mensuel des technologies et procédés innovants

                WEBEX de 12h30 à 13h30 | Durée : 60 min

Une fois n'est pas coutume, cette Tech Hour dédiée à la Fiabilité électronique est couplée aux Rendez-Vous Fiabilité du CFF :  nous vous présentons une compétence portée par l'un des membre du CFF.
Accès gratuit en visioconférence.

Le CFF,  le Centre Français de Fiabilité, c'est un Regroupement d’experts de la fiabilité des systèmes et des composants électroniques. Il regroupe à l’échelle nationale, des entités académiques et industriels, des laboratoires et des unités de recherche, de grands groupes et des PME/ETI.

La vocation du CFF est de mettre en relation les acteurs compétents pour la résolution de problèmes techniques et/ou technologiques liés à la « Fiabilité », de créer des synergies entre les compétences, les moyens et les utilisateurs.

Tous les secteurs sont concernés par la fiabilité : l’automobile, l’aérospatiale,  la défense, le ferroviaire, …


Cette session sera assurée par les laboratoires CRISMAT (Caen) et GPM (Rouen).

Sujet présenté au cours de cette session : 

  • SiC-ageing :  Caractérisation des modifications électriques et mécaniques locales de la puce SiC après “ageing” (vieillissement electrothermique et irradiation) 

par

  • Rosine Coq Germanicus <rosine.germanicus@unicaen.fr>
  • Pascal Dherbécourt <pascal.dherbecourt@univ-rouen.fr>
Le Laboratoire CRISMAT (Laboratoire de Cristallographie et Sciences des Matériaux) à Caen est une Unité Mixte de Recherche (CNRS UMR 6508) sous la tutelle du CNRS, de l’école d’ingénieur ENSICAEN et de l’Université de Caen Normandie (UNICAEN).
Expertises pour le CFF :
  • Analyses de défaillances : du boitier électronique à la puce semi-conducteur
  • Expertises des propriétés microstructurales, nano-mécaniques etnano- électriques, à l’échelle du matériau

Le laboratoire du GPM (Groupe de Physique des Matériaux) est l’UMR CNRS 6634.
L’équipe de recherche en défaillance électronique et fiabilité ERDEFI met en place des moyens de recherche autour des composants grand gap à base de Nitrure de Gallium ou de Carbure de Silicium, elle est en interface avec les services transversaux du laboratoire GPM pour l’utilisation des équipements lourds.

La feuille de route pour l’équipe est d’approfondir ses compétences sur les caractérisations électriques des composants, le vieillissement des composants, l’analyse de défaillance et de développer les analyses micro-structurales associées.

Le projet SiC-ageing a pour objectif de déterminer les modifications électriques et mécaniques locales des composants de puissance en carbure de silicium (SiC) ayant subi des tests de vieillissements accélérés (ageing). 


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