Resumos do Workshop:

TEMA - Fluorescência de Raios-X: Análise elementar não destrutiva.

Utilizando a análise da energia dispersa durante o fenômeno de fluorescência de Raios-X essa técnica torna-se uma ferramenta analítica multielementar não destrutiva, capaz de identificar elementos a partir do 13Al até o 92U, analisando seus decaimentos característicos como as linhas elementares Kα, Kβ e assim por diante. 

Durante a análise, o material é irradiado com um feixe de raios-X, esse feixe interage com os átomos da amostra provocando ionizações, as vacâncias resultantes são preenchidas por elétrons das camadas mais próximas resultando assim nas emissões características. Essas emissões, permitem então caracterizar os elementos presentes na amostra em estudo. Construindo uma curva de calibração, é possível além de caracterizar os elementos presentes, quantificar tais elementos, podendo, portanto, ser utilizada como uma técnica quantitativa.

Neste workshop, discutiremos as tecnologias embarcadas nos equipamentos HORIBA, como: autoidentificação de picos, tecnologia de separação de picos (tecnologia patenteada pela HORIBA), processamento de background (patente HORIBA), análise qualitativa, criação de curva de calibração, criação de procedimentos a serem realizados pelo usuário. Nessa apresentação, serão discutidas algumas aplicações nos mais diversos campos de aplicações, como: metalurgia, mineração, meio ambiente, alimentos, RoHS, ao final serão realizadas análises em nossa unidade demo. 

Tragam suas amostras para teste!!